规矩：试验产品跟着开断次数的增加，试验失利率反而在大大减少。其间，发作问题的开断次数区间在1～10次中的占65.3%，11～20次中的占24.0%，21～30次中的占10.7%，30次以上的为0%，见表1。 
开断失利的原因许多[3～4]，主要有：①开关装置调试不当，如灭弧室装置偏疼，紧固螺丝松动，反弹或弹跳过大；②机构可靠性差，行程特性曲线不理想；③灭弧室内部缺陷，如真空度不合格，老炼不充分等。从表1可以看出，开断试验中大部分问题出现在电寿数试验初步阶段，一旦度过这段进程，熄弧失利的几率就初步减小。失利的原因虽然不扫除灭弧室本身问题，但现在真空灭弧室的生产工艺和制造水平已恰当老到，合格率恰当高，而且出厂时还要通过数次高电压、小电流的充分老炼，多道真空度检测工序，出现问题的概率应该说很小。其实就算是由于灭弧室本身的缺陷形成开断失利（如熔焊、未灭弧），包括触头材料内部许多排气形成真空度下降，或许触头材料熔化后发作的金属微粒飞溅使灭弧功用下降等原因，也应该是跟着开断次数的增多，失利几率逐渐增加。可事实恰好相反。开断30次以上的试品都通过了电寿数试验，乃至是同一台产品连续成功做了两轮电寿数试验，即一同满足文[5]要求的274次E2级延长的电寿数试验和文[6]要求的满容量开断30次的电寿数试验。 
由此可见，短路开断失利的关键因素并不在灭弧室本身，而在于断路器规划存在缺陷，或许装置调试进程中的不仔细及人为疏忽等方面。可以说，一台规划合理、装置合格且调试出色的开关，只要选配合格的真空灭弧室，理论上都可以通过几十乃至上百次的额定短路电流开断。 
验证性试验及结果： 
影响电寿数的主要因素是电磨损，包括灭弧室、灭弧介质、触头三方面，一般以为起决定作用的是触头的磨损，其取决于电弧能量即开断电流和燃弧时间。许多的试验结果表明[7]：虽然燃弧时间的长短对单次开断是随机的，其均匀燃弧时间则是趋近的，即可疏忽首开相、后开相的影响，完全用开断电流作为参考量。 
根据真空电弧理论分析可知，真空电弧电压是一个挨近的数值，不受外施电压大小的影响，只需一定大小的外施电压就可保持真空电弧焚烧，所以只要短路电流满足要求，可以采取下降电压的办法进行电寿数开断试验[8~9]，其触头磨损程度应该可以等效全电压的情况。根据此原理，组成试验所用辅佐断路器由于每次均参加开断短路电流，也承受较高的康复电压，故仍能满足对触头的磨损要求。所以，通过对2005-2006年站内组成试验用辅佐断路器开断试验的记载与分析，来查核验证充气柜的电寿数极限开断次数才干，试验原理见图1。图1中FD的灭弧室型号为TD-40.5/1600-31.5（编号0402578），自替换该灭弧室起，记载了其每一次的开断情况，一同为了满足试验的等价性，特意将它每次的燃弧时间整定为9～11ms。不同于现在流行的等效累计法[10～11]，将各种开断电流全都等效核算至满容量下一同查核寿数，此次纪录没有考虑低于额定短路开断电流的情况，只记载了开断31.5kA额定短路电流次数，即灭弧室触头实际的磨损程度要比记载情况还要更加苛刻。

HK-合闸开关 SP-试品 FL-分流器 FD-辅佐断路器 
YQ-延弧回